Herkunftsort: | China |
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Markenname: | CRYLINK |
Zertifizierung: | Iso9001 |
Modellnummer: | CRYLINK-CdWO4 Scintillator Kristall |
Min Bestellmenge: | 1 Stück |
Preis: | negotiation |
Verpackung Informationen: | Karton |
Lieferzeit: | 3-4 Wochen |
Zahlungsbedingungen: | TT |
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: | 100 Stücke /month |
Name: | Szintillationszähler CdWO4 | Lichtausbeute (Photon/MeV): | 13000 |
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Ausschwingzeit (S): | 12-15 | Höchstemission (Nanometer): | 480 |
Markieren: | bgo Wismut germanate,Lutetiumyttrium oxyorthosilicate |
Produkt-Details
Kadmium tungstate CdWO4 (CWO), wegen seines niedrigen tatsächlichen Hintergrundes und Nachglut zusammen mit genug Glanzpunktertrag, ist für Spektrometrie und Radiometrie von Radioniedrigen Tätigkeiten der nuklide darunter extrem - und auch für Computertomographie das viel versprechendste.
Der Kristall ist transparent und strahlt das Licht, wenn er durch Gammastrahlen und Röntgenstrahlen geschlagen wird aus und macht es nützlich als Detektor der ionisierenden Strahlung. Seine Höchstszintillationswellenlänge ist 480 Nanometer (mit Emissionsstrecke zwischen 380-660 Nanometer) und Leistungsfähigkeit von 13000 Photonen/MeV. Sie hat einen verhältnismäßig Glanzpunktertrag, ist sein heller Ertrag ungefähr 40% von NaI (Zeitlimit), aber die Zeit der Szintillation ist (s 1215) ziemlich lang. Sie ist in der Computertomographie häufig benutzt. Die Kombination des scintillator Kristalles mit außen angewandtem Stück des Borkarbids erlaubt Bau von kompakten Detektoren von Gammastrahlen und von Neutronenstrahlung.
Spezifikationen
Szintillations-Eigenschaften | |
Materialien |
CdWO4 |
Lichtausbeute (Photon/MeV) |
13000 |
Ausschwingzeit (S) |
12-15 |
Höchstemission (Nanometer) |
480 |
Nach Glühen |
0.1%@6ms |
Dichte (g/cm3) |
7,9 |
Hygroskopizität |
Nein |
Polierspezifikation für optischen Grad |
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StandardPrecision |
Hohe Präzision |
Superpräzision |
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Orientierungs-Toleranz |
< 1° |
< 0.5° |
< 0.2° |
Stärke-/Durchmesser-Toleranz |
±0.10 Millimeter |
±0.05 Millimeter |
±0.02 Millimeter |
Oberflächen-Flatness@633nm |
<-2 |
</2-/4 |
/4-/6 |
Wellenfront-Verzerrung |
< (2-4) |
< (1-2) |
< (- /2) |
Oberflächenbeschaffenheit |
60/40 |
40/20 |
20/10 |
Parallel |
45 |
1 |
10 |
Senkrechtes |
60 |
30 |
20 |
Klare Öffnung |
>90% |
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Chammfer |
<0.2mm×45° |
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Beschichtung |
Verfügbar auf Anfrage |